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一、適用專業:
集成電路工程
二、參考書目:
1.關旭東.硅集成電路工藝基礎.第一版.北京:北京大學出版社(2003.10)
三、考試內容與基本要求:
第一章
內容:硅的晶體結構及半導體材料制備方法。
要求:掌握基本概念及半導體材料制備工藝流程。
第二章
內容:晶體管工藝結構、集成電路工藝結構、集成電路平面工藝流程。
要求:掌握器件結構圖及主要工藝過程。
第三章
內容:SiO2的結構及性質及氧化工藝原理。
要求:掌握基本概念及工藝流程,氧化層厚度計算。
第四章
內容:擴散系數與擴散方程、擴散工藝與設備。
要求:掌握基本概念及工藝流程,擴散結深的計算。
第五章
內容:硅氣相外延的基本原理、雜質分布、外延工藝過程及設備。
要求:掌握基本概念及工藝流程。
第六章
內容:離子注入工藝原理。
要求:掌握基本工藝流程、注入結深與雜質分布等的計算。
第七章
內容:光刻工藝流程、光刻膠屬性及曝光技術。
要求:掌握基本工藝流程及主要曝光技術。
第八章
內容:光刻掩模版制備工藝原理及掩模版制備工藝過程。
要求:掌握工藝原理及工作流程。
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